Other Total 4 ea 
No Equipment Maker Model Name Configuration Size Con Qty
4  Film measurement Nanometrics Nanospec -910    1 
3  Thickness measurement Nanometrics Nanospec 6100 AT    1 
2  Wafer Sorter Any Any model  Working condit  8 1 
1  CMP Applied Mirra Mesa  Inquire  8 A 1 
 Start | ◁ 1  ▷ | Last  
Search